Résumé du livre
La caractérisation lithologique des formations résiduelles à silex (en abrégé RS : résidus à silex) ou altérites à silex de l’ouest du Bassin de Paris montre que ces matériaux se subdivisent en deux grands ensembles : les RS de plateau et les RS de versant, également appelés biefs à silex. Les RS de plateau s’organisent en six familles géographiques aux caractéristiques lithologiques bien distinctes. Les biefs à silex ne s’organisent pas de manière régionale, mais en fonction de la nature et de la pente du versant. On distingue : les biefs à silex situés à l’extrémité des interfluves , les biefs à silex localisés sur les versants des vallées sèches et drainées dont la pente est supérieure ou égale à 19° (ces versants présentent deux biefs, les biefs 1 et 2, sous la forme géométrique d’un double biseau) , les biefs à silex localisés sur les versants des vallées sèches et drainées dont la pente est inférieure ou égale à 18° (ces versants ne présentent qu’un seul bief, le bief 1, sous la forme d’un simple biseau). La genèse des RS aux dépens des craies commence dès l’émersion fini-crétacée. La réalisation d’un bilan d’altération entre les craies à silex et les RS indique que les RS ne sont pas uniquement un résidu d’altération des craies. Si l’origine autochtone des silex est incontestable, les rapports fraction silicatée fine/silex de 1/4 à 1/9 dans les craies contre 1/1 à 1/1,5 dans les RS montrent que les matrices présentent une part allochtone importante. L’allochtonie diminue avec la profondeur, pour devenir nulle vers 20 mètres. Au Quaternaire, la dynamique périglaciaire et le creusement des vallées va entraîner des remaniements de type solifluxion des RS sur le rebord des plateaux. Ceci conduit à la formation des biefs à silex. La mise en évidence d’une géométrie en double biseau implique au moins deux phases de mise en place. La similitude de ces formations avec les heads et leur relation…
Carte de livre
- Nombre de pages: 219
- Auteur: Benoit Laignel
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